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非接触式扇出测试电缆是一种专用的光测试解决方案,旨在将多光纤光学接口与多个单工或双工通道相连接,同时避免光纤端面之间的物理接触。通过将扇出结构与非接触式光学耦合技术相结合,该电缆在严苛的测试环境中展现出卓越的耐用性、稳定的光学性能以及更长的使用寿命。
与传统扇出测试电缆不同,后者在多次插拔过程中可能导致端面磨损、污染以及连接器性能退化;而非接触式扇出测试电缆在连接时避免了光纤端面的直接接触。这一创新设计大幅降低了维护需求,并确保在整个产品生命周期内获得稳定一致的测试结果。
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产品特点
● 可兼容接触式连接器
● 兼容全系列多芯连接器,不受原材料品牌、型号限制
● 超高对接重复性和互换性
● 超长对接使用寿命,有效防护被测产品端面损伤
● 对接时脏污不敏感
● 低插损、高回损
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