产品
- 描述
- 功能
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多通道超高速插入损耗测试仪是一款新一代光学测量系统，专为高速、高精度地评估多光纤连接器和光组件而设计。该仪器基于与传统插入损耗测试仪截然不同的工作原理，在保持优异的测量稳定性和重复性的同时，显著提升了测试效率。
与传统系统需为每次测量重新构建光路不同，该测试仪无需反复进行光学重构。因此，多通道插入损耗测试可在约1秒内完成，显著提升生产和质量控制环节的测试效率。
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产品特点
● 采用完全不同的工作原理，测试速度是现有设备的十倍。
● 多通道测试可在一秒钟内完成，大幅提高测试效率。
● 由于无需重新搭建光路，重复测试的误差极低，因此可作为校准装置使用。
● 输出连接器仅采用非接触式MPO接口，结构十分简洁。
● 大面积PD探测器接口可通过更换接口法兰，兼容多种连接器类型。
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